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半导体芯片可靠性测试设备

IOL间歇寿命老化测试系统

IOL间歇寿命老化测试系统，测试各种封装的MOSFET、IGBT、三极管、Diode（小电流器件）进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温和低温，加速芯片内各种组件材料和结合面的热机械应力，验证封装、内部键合等承受由芯片操作引起的热机械应力能力。

产品特点

符合标准

适用范围

更换测试母板，可以满足不同的试验电路、不同的器件试验。

每个回路加热电流IH、测试电路Im独立程序控制。

监控每颗器件的△TJ或者TJ。

可兼容稳态寿命和间歇寿命试验。

MIL-STD-750、GJB128及AEC-Q101等相关标准要求

适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。

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产品参数

产品型号

      MB-IOL-640
      MB-IOL-640A
      MB-IOL-1280

产品名称

      IOL间歇寿命老化测试系统

试验电源

      8台或16台
      8台
      16台

试验通道

      16个
      8个
      16个

温区

      4个
      8个
      16个

加热电流

      1路/通道
      4路/通道
      4路/通道

范围

5A-15A
5A-15A
5A-15A

试验容量

      40X16=640位
      80X8=640位
      80X16=1280位

上位机

      工业级研华电脑主机、品牌显示器+专用键盘及鼠标。

基本功能

    ●试验参数(IH、Im、ton/toff、times) 设置。 ·参数(IF、VF、TJ、△Tj)上限设定。
●实时监测显示老化参数（IF、VF、TJ、△Tj、Times) 及循环次数。
●实时记录保存老化参数(IF、VF、TJ、△Tj)。
●绘制各试验参数的变化曲线。
●实时判断是否超限,超限报警并记录超限工位及超限时间。
●老化参数方便调用、可生成试验报表。

联网功能

      可实现电脑端网络监控或者手机端APP监控

选配件

      K 系数测试仪,可同时测试10颗器件的K值。

电网要求

      单相AC380V.20KW
      单相AC220V.12KW
      单相AC380V.25KW

外形尺寸

      180X138X188(cm)

重量

      约800kg
      约500kg
      约800kg