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检测对象
试验项目
试验标准
解决方案(可点击对应产品查看详情)
功率半导体器件
温度循环 TC
低温存储试验 LTSL
稳态湿热试验 STH
高温高湿偏压 H3TRB
高温反偏 HTRB
高温栅反偏试验 HTGB
间歇工作寿命 IOL
高压加速寿命试验 PCT
高加速老化试验 HAST
不偏压高速老化 UHAST
盐雾腐蚀试验 SST
IGBT 模块 IPM 模块 SIC
温度循环 TC
低温存储试验 LTSL
高温存储试验 HTS
稳态湿热试验 STH
高温高湿偏压 H3TRB
高温反偏 HTRB
高温栅反偏试验 HTGB
高压加速寿命试验 PCT
高加速老化试验
分立器件
低温存储试验 LTSL
高温存储试验 HTS
高加速耐湿及偏压HAST
高压蒸煮(PCT)